产品描述
场发射扫描电镜及能谱仪( SEM+EDS)
场发射扫描电镜（SEM）与能谱仪（EDS）的协同组合，为材料检测提供了全方位微观分析解决方案，实现“微观形貌观测” 与 “成分快速分析”的同步精准表征。
场发射扫描电镜凭借先进的场发射电子枪技术，核心作用是对材料表面进行高分辨率微观形貌观测。其不仅具备极最高可达 100 万倍的放大倍数，能将微观结构清晰呈现；更在分辨率上实现质的突破 —— 设备的极限分辨率可低至 1-2 纳米级别，能精准捕捉材料表面的颗粒形态、孔隙结构、断裂形貌、薄膜厚度等细微特征。
能谱仪可对材料进行快速、无损的元素成分分析，确定含有的元素种类，并提供半定量分析结果，给出各元素相对含量。此外，EDS 还具备元素面分布（Mapping）功能，可直观呈现目标元素在材料表面的空间分布规律，助力深入探究成分与形貌、性能之间的关联。
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